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207 高エネルギーX線によるEB-PVD膜の残留応力評価(中性子,放射光による応力測定,残留応力の評価と強度,オーガナイスドセッション3,第53期学術講演会)
Identifier:nobleid.org/w1/20260515/7DF21650
Type:Journal Article
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